ReRa presenteert nieuw zonnecelmeetsysteem op Intersolar Europe

Het systeem zal voor het eerst op de InterSolar getoond worden (red. op standnummer A1.117 van Abet). Daarnaast zal ReRa aanwezig zijn met haar measurement tools en software oplossingen.

In de maart-editie van Solar Magazine werd uitgebreid aandacht besteed aan de Nederlandse testtechnologie van zonnepanelen in de supply chain. ReRa-oprichter Erik Haverkamp: ‘Ook ons bedrijf hoort in dat lijstje thuis. Wij zijn in 2008 gestart als spin-off van de Radboud Universiteit (RU) Nijmegen. De Applied Material Science groep van John Schermer heeft deze transitie mogelijk gemaakt en is tot op heden nauw betrokken bij de technologie. Wij zijn uitgegroeid tot een succesvolle internationale onderneming met een klantenlijst van tientallen gerenommeerde internationale high tech instituten en bedrijven.’

Naast ontwikkeling van standaard meetinstrumenten en bijbehorende software, voert ReRa regelmatig maatwerkprojecten uit. Haverkamp: ‘Dit alles gedreven door onze ervaring op het gebied van zonnecelmaterialen. Mede door de kennis van ruimtezonnecellen zijn wij een belangrijke speler in de ruimtevaart-industrie. Het Duitse onderdeel van Airbus gebruikt een door ons ontwikkeld systeem om ruimtevaartcellen to 4 lagen zeer nauwkeurig te meten. Ook in eigen land worden we steeds actiever. Zo hebben wij in opdracht van TNO en ECN, software- en meetapparatuur voor een klimaatkamer meetsysteem binnen Solliance gerealiseerd.’

Net als voorgaande jaren zal ReRa Solutions (red. namens de Radboud Universiteit) bovendien aanwezig zijn op de ‘6th International Spectro-Radiometer Intercomparison’. Deze bijeenkomst wordt jaarlijks georganiseerd door het Europese Joint Research Center en vindt dit jaar plaats bij ENEA in Italië. Deelnemers zijn grote en kleine Europese onderzoeksinstituten die daar hun primaire meetinstrumenten kalibreren en vergelijken. ReRa is hier verantwoordelijk voor de apparatuur, data-acquisitie en verwerking van de meetwaarden.

Buiten verschillende soorten referentie cellen: (filtered) Silicium, GaAs en Multi Junction, bestaat het assortiment uit probes, electronic loads, uniformity mappers en de Tracer IV curve software. Dit laatste software pakket wordt internationaal gezien als de defacto standaard voor het meten en verwerken van zonnecel IV-curves.